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HAST试验箱越来越普遍的原因是什么？

近年来，随着技术的进步，元器件的可靠性越来越高，一些传统的测试方法已经无法适应。例如，常用的IC温度/湿度/偏置电压(THB)测试(85C/85%RH加偏置电压)需要数千小时才能获得近封装质量水平的有用结果。此外，随着越来越多的塑料微电路和COTS产品被应用于高可靠的军事装备，也需要提高测试和筛选技术以降风险。

美国国防部宣布采用民间标准SSB-1《塑封微电路和半导体在军事、航空和其他严格控制的应用中的使用指南》，规定了半导体企业用于识别新的或改进产品的常用可靠性试验，包括表面贴装器件的预处理、偏置寿命试验、温度循环、高压蒸煮、THB和高加速应力试验(HAST)等。

在这些测试中，艾斯瑞仪器的HAST测试箱是专门为塑封固态器件设计的，因为已经证明高压蒸煮和THB测试已经不能让一些健壮的塑封微电路失效。在该实验中，采用高温(通常为130℃)、高相对湿度(约85%)和高大气压力(高达3 atm)来加速水分穿过芯片引线周围的外部保护材料或密封封装。当水分到达基底表面时，势能会将装置变成电解池，从而加速腐蚀失效机制。该测试中加速的失效机制包括金属化腐蚀、材料界面处的分层、引线键合失效、绝缘电阻降等。这个和THB差不多，但是HAST加速更快。有些器件厂商通过对比确定某一批次的失效是由相同的失效模式引起的，然后对该批次使用HAST代替THB，再根据HAST测试结果用加速因子推导出等效的THB失效结果。

对于加速试验，过去主要使用单一应力和恒定应力剖面。但是，在新的加速试验中，应力剖面不需要恒定，也可以使用应力组合。常见的不稳定应力剖面和组合应力剖面包括步进应力剖面试验、渐进应力剖面试验、高加速寿命试验(HALT)、高加速应力筛选(HASS)和HAST。HALT、HASS和HAST是相对较新的测试方法。HALT是一个开发测试，也是一个增强的逐步压力测试。一般用于发现设计中的弱点和生产过程中的问题，目的是提高设计的强度裕度，而不是预测产品的定量寿命或可靠性。HASS是一种加速环境压力筛选方法。它提供了产品遇到的恶劣的环境，花费的时间有限。HASS的目的是实现“技术的基本限”，即应力的微小增加会大大增加失效的应力水平。HALT和HASS的联合使用旨在改进产品设计，大限度地减少生产变化和环境效应对性能和可靠性的影响。

HAST
用于评估IC器件、金属材料等的可靠性。在潮湿环境中的非密封包装中。在温度/湿度/偏压条件下，可用于加速水分的渗透，通过外部防护材料(塑料密封材料或密封件)或在外部防护材料与金属导电材料的界面处。

hast试验箱的详细规范:
设定温度:+100℃ ~+132℃(饱和蒸汽温度)
湿度范围:蒸汽湿度
工作压力:1.5 kg ~ 3.2 kg/cm2(内筒设计压力为4 kg/cm2) (Jué du √压力)
HAST试验箱越来越普遍的原因是什么？

时间范围:000小时~ 999小时
加压时间:0.00 kg ~ 1.04 kg/cm2，约45分钟
温度波动均匀性:0.5℃
温度显示精度:0.1℃
压力波动均匀性:0.2Kg

Hast试验室控制系统
1.饱和蒸汽的温度由微型计算机(PT-100铂温度传感器)控制。
2.时间控制器采用LED显示。
3.用指针显示压力表。
4.微电脑P.I.D自动计算和控制饱和蒸汽温度。
5.手动进水阀(自动加水功能，不停机连续测试)。

Hast试验箱材料:
1.试验箱尺寸:∮ 300mmx500mm，圆形试验箱。
2.整机外形尺寸:实用(宽*深*高)立式
3.内桶材料:不锈钢板材(SUS#3163mm)
4.外桶材料:不锈钢板(SUS#3161mm)
5.保温材料:岩棉和硬质聚氨酯泡沫保温。
6.蒸汽发生器室加热管:管式无缝钢管电加热器，翅片散热(表面镀铂防腐蚀)。

Hast试验箱ān qun保护:
1.进口耐高温密封电磁阀，采用双回路结构，确保压力不泄漏。
2.整机配有过压保护、超温保护、一键泄压、手动泄压等多重φNQán保护装置，大程度保证用户使用和φNQán。
3.背压门锁装置，当实验室内有压力时，试验箱门不能打开。

Hast试验箱适用于国防、汽车零部件、电子零件、塑料、磁体工业、制药工业等相关产品的加速寿命试验。用于产品设计阶段，快速识别产品的缺陷和薄弱环节。艾利测试仪器是专业模拟测试设备的明星企业，生产历史悠久，技术精良。国内很多测试设备厂都在用，成立30多年了。深受好评，多次被评为“省优”产品。

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