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PCT高压加速老化试验箱技术要点

PCT高压加速老化试验箱适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板，多层线路板、IC、LCD、磁铁、灯饰、照明制品等产品之密封性能的检测，相关之产品作加速寿命试验。

技术要点是:
密封作用、安全性能和操作方式。1.密封作用:背压式PCT高压老化试验箱依靠箱内压力关闭通向内箱的门，达到良好的密封作用。当箱内压力为0.1MPa时，内箱会以0.1MPa的力关门，刚好达到很好的密封作用，不需要额外的压力就可以轻松完成；当箱内压力为0.2MPa时，内箱会以0.2MPa的吸力关门，整个密封过程基本靠设备自身实现。
3.安全性能:在测试过程中，随着箱内压力的增加，反压门扣会自动锁死，箱门无法打开，可以更有效的防止操作者无意中打开箱门。当箱内压力排出后，反压门扣会自动解锁，真正起到了门禁的作用。
操作方式:平面反压门设计，用户关门时只需逆时针旋转把手180度，其余由设备自动完成。安全、方便、快捷、有效。
瑞PCT测试仪主要用于测试半导体封装的吸湿容量。当被测产品在恶劣的温度、湿度和压力下测试时，水分会沿胶体或胶体与引线框架的界面渗入封装。常见的故障模式是有源金属化区域腐蚀导致的开路或污染导致的封装引脚之间的短路。广泛用于测试印刷电路板、多层印刷电路板、IC、LCD、稀土材料、钕铁硼、磁铁等产品的密封性能，测试其产品的耐压性和气密性。加速寿命试验的目的是增加环境应力(如温度)和工作应力(如施加在产品上的电压和负载)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。

规格:
1.内箱尺寸:φ300×D450(mm)
2.外箱尺寸:W660×H1050×D1250 (mm)
3.内箱材料:SUS 304#不锈钢板。
4.外箱材料:烤漆或不锈钢。
5.温度范围:100℃ ~ 132℃(饱和蒸汽温度)。
6.湿度范围:**RH。(饱和蒸汽湿度)。
7.压力范围:0.2kg/cm2 ~ 2.4kg/cm2控制点压力。
8.时间范围:0 ~ 999小时可调。
9.温度分布:(+/-)2.0℃。
10.加热时间:RT ~ 132℃约45分钟(控制点温度)。
1.加压时间:0.0Kg/cm2 ~ 2.0Kg/cm2，约40分钟(控制点压力)。
12.控制对象:微机+P.I.D.+S.S.R自动计算控制饱和蒸汽温度。
13.控制方式:微电脑PID控制。
14.控制精度:(+/-)0.5℃。15.分析精度:0.1℃。