低气压测试目的
GJB 360B-2009电子和电气部件的试验方法方法105 低气压试验(相当于美国标准MIL-STD-202F)
目的:测定元件和材料在低气压下的耐电击穿性能；确定密封件承受压差而不损坏的能力；检查低气压对部件工作特性的影响以及低气压下的其他影响；有时可以用来确定机电元件的耐久性。
该方法是常温下的a 低气压测试。如果装置部件的设备将在低温低气压和高温低气压的组合条件下储存和使用，并且可以得出高温、低温和气压的组合作用是导致故障的主要原因，如果常温低气压试验不能使用，则应进行温度和气压的综合环境试验。
GJB 150.2-2009
目的
该测试的目的是确定设备是否能够:
a)公差低气压环境；
b)在低气压环境中正常工作；
c)承受气压的快速变化。
低气压相关测试标准
1)GJB 150.2A-2009军用设备实验室环境试验方法第二部分低气压(高度)试验
2)GJB 360B-2009电子和电气元件试验方法105 低气压试验(相当于美国标准MIL-STD-202F)
3)GJB 548B-2005微电子器件测试方法和程序1001 低气压(高空作业)(相当于美国标准MIL-STD-883D)
4)GB/T 2421-2008《电工电子产品基本环境试验通则》
5)GB/T 2423.21-2008《电工电子产品基本环境试验规程》试验方法
6)GB/T 2423.25-2008《电工电子产品基本环境试验规程》试验Z/AM低温/低气压综合试验方法
7)GB/T 2423.26-2008《电工电子产品基本环境试验规程》试验Z/BM高温/低气压综合试验方法
8)GB/T 2423.27-2005电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验
9)GB/T 2424.15-2008《电工电子产品基本环境试验规程》
10)MIL-STD-810F“环境工程考虑和实验室试验低气压(高度)试验”
11) GB/T 1920-1980标准大气(小于30公里)(2015年10月失效)
12)IEC 60068-2-41(1976年)《基本环境试验规程第二部分试验试验Z/BM高温/低气压试验》

测试条件:
1.测试气压
GJB 150不适合飞行高度超过30000米的航天器、飞机或导弹上的设备，而GJB 360在4 572 ~ 200 000米的不同高度给出了相应的低气压值，GJB 548在4572 ~ 200000米的不同高度也给出了相应的低气压值，对比GJB 360和GJB 548的低气压-高度计，GJB 548列出了7种不同高度下的高度气压值 e、F、G，给定的试验条件有一定的规律性，气压值随飞行高度由低到高由大变小。 GJB 360给出了A、B、C、D、E、F、G、H、I、10种不同状态下的高度气压值，列出的高度-气压表中的试验条件从A到E有一定的规律性，随着飞行高度从低到高，气压值由大到小变化，但从试验条件F到试验条件j没有规律性，与GJB 548列出的试验条件相比， GJB 360的试验条件在试验条件J上增加了条件H，对应的气压高度条件为:H:3000m 70 kPa； I:18000米，7.6千帕；克:25000米，2.5千帕.
GJB 360B-2009表105-1
2.测试时间
GJB 360B-2009规定:
除非另有规定，测试样品在低气压条件下的测试时间可从以下值中选择:
5min、30min、1h、2h、4h和16h。
GJB 150.2-2009
测试时间
程序1的测试持续时间应代表设备在低气压环境中的预期使用时间。如果时间太长，可以适当缩短。对于大多数设备，测试时间至少持续1小时。程序二、三和四的测试时间持续到所有要求的性能测试完成。
3.压力上升和下降速度
一般不超过10kPa/min。
GJB150.2A-2009
高度变化率
如果具体高度变化率(爬升/下降率)未知，或者相关文件中没有规定，可以参考以下指导数据:军用运输机全推力起飞时的平均高度变化率通常为7.6m/s。除非证明预期平台环境需要采用其高度变化率或另有规定，试验应采用10m/s的高度变化率。
GJB150。2A-2009 低气压四低气压测试程序(高度)测试:
程序快速减压(在15秒内，试验区域的压力从75.2千帕快速减压至18.8千帕)
程序爆炸减压(在0.1秒内，试验区域的压力突然从75.2Kpa下降到18.8Kpa)。